扫描电子显微镜(SEM)原理
电子枪产生的电子束经聚光镜和物镜聚焦后,形成极细的电子束在样品表面进行逐点扫描。电子束与样品表面相互作用,激发出二次电子、背散射电子等信号。其中二次电子对样品表面的形貌非常敏感,这些二次电子被探测器收集,转换为电信号,再经过处理后在显像管或显示屏上形成反映样品表面形貌的三维图像。
应用场景:
主要用于观察样品的表面形貌,如材料的断口、晶体的表面生长形态、生物样品的细胞表面结构等,在材料科学、生物学、地质学、半导体工业、法医学等领域应用广泛。

电子枪产生的电子束经聚光镜和物镜聚焦后,形成极细的电子束在样品表面进行逐点扫描。电子束与样品表面相互作用,激发出二次电子、背散射电子等信号。其中二次电子对样品表面的形貌非常敏感,这些二次电子被探测器收集,转换为电信号,再经过处理后在显像管或显示屏上形成反映样品表面形貌的三维图像。
应用场景:
主要用于观察样品的表面形貌,如材料的断口、晶体的表面生长形态、生物样品的细胞表面结构等,在材料科学、生物学、地质学、半导体工业、法医学等领域应用广泛。
